在“武汉大学130周年校庆”之际，第五届中国分析测试协会高校分析测试分会青年部大会在武汉大学成功召开。电子显微仪器制造商TESCAN 带来新型4D-STEM数据分析技术。

精彩回顾

新型分析型4D-STEM技术

TESCAN TEM产品经理柯盼在第二分会场做了《TESCAN集成和旋进辅助分析型4D-STEM》的报告。

报告介绍了TESCAN TENSOR 在材料研发上的应用。新材料的研发以及越来越小的半导体器件的质量评估，在很大程度上依赖于纳米级的相和结构表征。而4D-STEM方法已成为一种强大的技术，能够在纳米级上解析和表征多晶材料中晶相和晶粒取向。TESCAN将提出一种新的方法，集成所有必要的硬件与超高的系统自动化，以最便捷的方式获取和处理4D-STEM数据，可实现实时数据处理和结果可视化。

并邀请对此项新技术感兴趣的老师们参加征稿活动，赢取去捷克布尔诺TESCAN实验中心，体验使用TESCAN TENSOR 做样，由STEM专家协助，一起探讨成就您的科研项目。

李景—TESCAN应用专家

在第二分会场大连理工大学的报告上，TESCAN还收获了来自大连理工应用专家李景的感谢。TESCAN表示很荣幸能支持大连理工大学关于扫描电镜冷冻传输系统测试方法的改进研究。

TESCAN展台与方案展示

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